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露点仪探头

露点仪探头

更新时间:2023-05-05     访问次数:1506

简要描述:

Moisture Image系列氧化铝水分探头内置压力和稳定测量,MIS PROBE2露点仪探头安装和使用独立的温度和压力传感器的不便和限制已经不存在了,都能够直接装入Moisture Image系列探头。可提供测量温度介于–22°F~158°F(–30°C ~70°C)之间的非线性NTC热敏电阻,并选择五台固态压阻式感测器,测量压力达5000 psi表压(345 bar)。

Moisture Image系列氧化铝水分探头内置压力和稳定测量MIS PROBE2露点仪探头安装和使用独立的温度和压力传感器的不便和限制已经不存在了,都能够直接装入Moisture Image系列探头。可提供测量温度介于–22°F~158°F(–30°C ~70°C)之间的非线性NTC热敏电阻,并选择五台固态压阻式感测器,测量压力达5000 psi表压(345 bar)。

 

Moisture Image 系列1、2分析仪及PM880便携式湿度仪用温度和压力输入数据来确定参数,如ppm、lbs/mmSCF、相对湿度。

 

MIS系列露点探头特点

1.本质安全

2.环境温度到ppb水分测量;16位分辨率

3.三个功能,具有水分传感器和可选内置温度和压力传感器

4.非易失性校准数据的存储

5.校准数据可溯源至美国国家标准技术研究院(NIST)或英国国家物理实验室(NPL)

6.只需布线双绞线,使探头定位在离分析仪3000ft(914m)处

7.螺纹和VCR的安装配置

 

MIS PROBE2露点仪探头应用

Panametrics氧化铝水分传感器探头用于测量气体和非水溶性液体中的微量到周围水平之间的水分浓度。其设计旨在与 Panametrics Moisture Image系列1分析仪、Moisture Image系列2分析仪、PM880便携式湿度仪一起用于工业领域

 

技术参数:

氧化铝水分传感器探头

每个探头均由计算机按照已知水分浓度进行单独校准,可溯源至NIST或NPL。

露点/霜点校准范围

整体校准范围能力:140°F~–166°F(60°C~–110°C)
标准:68°F~-112°F(20°C~–80°C)数据达-166°F(–110°C)
超低:-58°F~-166°F(–50°C~–110°C)
超高:140°F~-112°F(60°C~–80°C)数据达 -166°F (–110°C)

准确度

±3.6°F(±2°C)140°F~-85°F(60°C~–65°C)
±5.4°F(±3°C),-86°F~-166°F(–66°C~–110°C)(-66°C~110°C)

重复性

±0.9°F(±0.5°C),140°F~-85°F(60°C~–65°C)
±1.8°F(±1.0°C),-86°F~-166°F(–66°C~–110°C)

温度

传感器工作温度(过程温度)–166°F~158°F (–110°C~70°C)
Moisture Image系列探头电子模块的工作温度:32°F~140°F (0°C~60°C)
存储温度158°F(70°C)

工作压力5Hg至5000psi表压 (345bar)

流量范围

气体:1个标准大气压下,从静态到10,000cm/s的线速度
液体:从静态到10cm/s的线速度,密度为1g/cc

响应时间

加湿或烘干周期内的含湿
量在63%的阶跃变化时,不到五秒

MIS探头/分析仪的分离

大推荐长度3000ft (0.9km)

 

产品应用:

石油化工

天然气

工业气体

半导体

炉气/热处理

发电

空气干燥器

药业

航空航天

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